介紹各種電子顯微鏡的基本工作原理。TEM/SEM/STM/AFM。

透射電子顯微鏡 TEM（Tran ** ission Electron Microscope）

電子束通過樣品成像。與普通生物透射顯微鏡更基本的工作機(jī)制相同，德布羅意波長較短，僅利用電子作為粒子來實(shí)現(xiàn)更精細(xì)的分辨率。

掃描電子顯微鏡 SEM （Scanning Electron Microscope）

顯微鏡只能觀察樣本表面，電子照射到樣本表面，反射成像。

掃描隧道顯微鏡 STM（Scanning Tunneling Microscope）

通過一個非常時，電子可以通過量子隧道距離足夠近時，電子可以通過量子隧道通過探針與樣品之間的間隙形成電流。距離越近，電流越大。在掃描過程中，上下移動探針以恒定電流，并記錄探針的上下移動。由于工作原理的限制，顯微鏡只能測量導(dǎo)電樣品的表面。

顯微鏡 原子力AFM （Atomic Force Microscope）

又稱掃描顯微鏡（Scanning Force Microscope）。其原理是通過彈性臂/箔（下圖6）上的探針接近樣品表面。在掃描和移動過程中，表面原子的排列將反映在彈性臂/箔的變形上，然后測量其變形。上述隧道效應(yīng)可用于測量變形，如下圖所示。激光也可用于測量。這種顯微鏡不應(yīng)被視為電子顯微鏡。該顯微鏡可用于測量非導(dǎo)體表面原子結(jié)構(gòu)。